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数控系统自诊断 技术实现 及易于 障排除方法

文章作者:ownpowerkefu 发表时间: 浏览次数:

[导读:]1.自诊断 技术实现     1)开机自诊断:数控系统通电下,设备内部诊断软件会自动对系统中各种圆件如CPU、RAM及各应用软件进行逐一检测并将检测结果显示出来,如检测发现小case,系统会显示报警信息或发出报警信号。开机自诊断一贯会在开机一分钟之内完成。    有..
数控系统自诊断 技术实现 及易于 障排除方法
     1.自诊断 技术实现      1)开机自诊断:数控系统通电下,设备内部诊断软件会自动对系统中各种圆件如CPU、RAM及各应用软件进行逐一检测并将检测结果显示出来,如检测发现小case,系统会显示报警信息或发出报警信号。开机自诊断一贯会在开机一分钟之内完成。      有时开机诊断会将易于 障原因定位到电路板或模块上,但也经常仅将易于 障原因定位在某一范围内,这时维修人员需查找相关维修手册按照提示找到真正易于 障原因并加以排除。      2)运行自诊断:运行自诊断也称在线自诊断,是指数控系统正常work时,运行内部诊断程序,对系统本身、PLC、地位伺服单圆以及与数控装置相连的其它外部装置进行自动测试、检查,并显示有关信息,这种诊断一般会在系统work时反复进行。      3)脱机诊断:当系统出现易于 障时,起首停机,然下使用随机的专用诊断纸带对系统进行脱机诊断。诊断时先要将纸带上的程序读入RAM系统中,计算机运行程序进行诊断,易于 判定易于 障部位,这种诊断在早期的数控系统中应用较多。      2.人员诊断 技术实现      数控系统的易于 障种类很多,而自诊断往往不能对系统的一切部件进行测试,也不能将易于 障原因定位到具体细鹄的圆器件上,这时要迅速查明原因就需要采取应用人员诊断方法。人员诊断方法有很多种,最常用的有:功能程序测试法、参数检查法、备件置换法、直观法、原理归纳法等,现简介如下:      1)功能程序测试法:这种方法将数控系统中的G、M、S、T、功能的全部指令编成一个测试程序,穿成纸带或存储到软盘上在进行诊断时运行这个程序,可快速判定哪个功能出现小case,这种方法一般在机床出现随机性易于 障时使用,也可用于设备闲置时间较长重新投入使用时测试用。      2)参数检查法:一般系统的参数是存放在RAM中的,一旦出现干扰或其它原因会遭成参数丢失或混乱,易于 使系统不能正常work,这时应按照易于 障特征,检查和核对有关参数,在排除某些易于 障时,有时还需对某些参数进行调整。      3)备件置换法:是将系统中型号完全同样的电路板、模块、集成电路或其它零部件进行互相交换比较,或利用备用的圆器件替换有疑点的部件,易于 快速有效地细目易于 障部位。      4)直观法:直观法是利用维修中常用的“先外下内”的原则,利用观察零部件的work状态、听声音、摸发热等方法,进行逐个检查,如利用视觉可观察内部器件或外部连接的形状上的改动;利用听觉可查寻器件发出的异常声音;利用嗅觉或触觉可查寻过载、 摄氏等现象;等等。      5)原理归纳法:当采取应用其它检查方法难以奏效时,可以从电路基本原理出发,一步一步用万用表、逻辑表、示波器等工具对测点进行检查对照,最终查明易于 障原因。
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